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智能化介质损耗测试仪 功能简介

点击次数:686 更新时间:2023-04-07

智能化介质损耗测试仪功能简介 

1. U盘插口--用来导出仪器存储的数据。

2. RS232接口--用来连接电脑,控制仪器,上传数据。

3. CX插座--是试品信号的测量输入端,正接线时由专用低压电缆连接,此电缆单层屏蔽带特制鳄鱼夹,长8m,接试品低端。反接线时此端空置。

4. 彩色触屏显示器--640*480分辨率,控制并显示菜单和各种提示信息及测量结果。

5. 打印机--打印测量数据。

6. CN插座--是外标准电容信号的测量输入端,使用内标准时此端空置。

7. 自激法电流输出端--测量CVT时候专用端子,一般接辅助绕组dn。

8. 自激法电流输出端--测量CVT时候专用端子,一般接辅助绕组da。

9. 电源开关--整机电源的开启和关闭。

10.高压开关--负责仪器内部高压电源的启动与关闭。只有使用外高压时关闭,其余时候均应处于打开状态。

11.电源插座--交流220V±10%,50±1Hz电源输入口,带5A保险管。

12.接地端子--为接地线接线端子。

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 高压线HV插座         高压线接地屏蔽插座(内部已经接地,只需插上即可)


智能化介质损耗测试仪仪器操作步骤

1.打开电源开关,仪器进行自检,若自检良好,液晶屏显示图十开机界面

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    图十二 模式选择修改图

所有的测试模式都在下拉菜单上,点击您想选择的模式即可。

正接线,反接线,反接线低压屏蔽

 

4)高压选择的修改,和修改测试模式一样。用触屏笔或手指点击 “内高压",出现下拉菜单 内高压,外高压,点击您想选择的高压即可。

5)标准选择的修改,和修改测试模式一样。用触屏笔或手指点击 “内标准",出现下拉菜单 内标准,外标准,点击您想选择的标准即可。

 

4.测量前准备:

1)接地线一端接仪器的接地柱,另一端可靠接大地,保证仪器外壳处在地电位上。

2)正接线时:将高压电缆插头插入后门HV插座中,将另一端的红色大钳子夹到被测试品的gao端引线上,黑色小钳子悬空或夹在红色大钳子上。将CX低压电缆插入CX插座中,另一端的红色夹子夹试品的低端,黑色夹子悬空或接屏蔽装置。

3)反接线时:将高压电缆插头插入后门HV插座中,将另一端的红色大钳子夹到被测试品的gao 端引线上,红色小钳子悬空或接屏蔽装置。Cx插座不用。

5.测试过程:


















           图十三 仪器启动测试前界面

选择好测试项目,测试频率,测试电压等项目,如图十三所示。

确保接线正确之后,用触屏笔或手指点击“启动仪器测试"。仪器开始升压,测量,

如图十四,图十五所示。

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  仪器采用双变频测试,图十四为55Hz测试,


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图十五为45Hz测试。

 

6.测试结果: 

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图十六 反接线测试结果            

7.测试完毕,事件处理

1)测试完毕可以把测试数据存储起来。用触屏笔或手指点击“存储"按钮,出现图十八

 

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图十八 数据存储界面

用触屏笔或手指点击数据编号框内的数值“1",会出现小键盘。如图十九数据输入界面

 

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图十九 序号数据输入界面

输入存储编号,然后按下OK。数据编号5就会出现在数据编号框内。按下存储,仪器会“嘟"响一声,然后返回到测试结果界面。表示存储完毕。

 

2)测试数据打印。测试完毕之后,在测试结果界面下,用触屏笔或手指点击“打印"按 钮,会将测试数据打印出来。如图二十 数据打印图

 

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图二十  据打印图

3)测试。打印数据或存储数据完毕,用触屏笔或手指点击“退出"按钮,仪器会返回初始开机界面。

智能化介质损耗测试仪现场试验注意事项

如果使用中出现测试数据明显不合理,请从以下方面查找原因:

1、高压线大红夹子接触不良

现场测量使用大红夹子连接试品时,大红夹子务必与试品接触良好,否则接触点放电会引起数据严重波动!尤其是引流线氧化层太厚,请刮一下外皮以免接触不良。

2、接地接触不良

接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀,务必保证0电阻接地!

3、空气湿度过大

空气湿度大使介损测量值异常增大(或减小甚至为负)且不稳定,必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布,此法有争议,可参照有关规程。

4、发电机供电

发电机供电时输出电压不稳定,而且有高压毛刺,可能造成误接380V保护启动。可以在发电机的输出端多串联几个电源滤波器,能够解决这个问题。

 

5、测试线

由于长期使用,易造成测试线隐性断路,或芯线和屏蔽短路,或插头接触不良,用户应经常维护测试线;

测试标准电容试品时,应使用全屏蔽插头连接,以消除附加杂散电容影响,否则不能反映出仪器精度;

6、工作模式选择

接好线后请选择正确的测量工作模式(正、反),不可选错。特别是干扰环境下应选用变频抗干扰模式。

7、试验方法影响

由于介损测量受试验方法影响较大,应区分是试验方法误差还是仪器误差。出现问题时可首先检查接线,然后检查是否为仪器故障。

8、仪器故障

用万用表测量一下测试线是否断路,或芯线和屏蔽是否短路;输入电源220V过高或过低;接地是否良好。

用正、反接线测一下标准电容器或已知容量和介损的电容试品,如果结果正确,即可判断仪器没有问题;

拔下所有测试导线,进行空试升压,若不能正常工作,仪器可能有故障。

十、变频测量讨论

1、变频测量

干扰十分严重时,变频测量能得到准确可靠的结果。例如用55Hz测量时,测量系统只允许55Hz信号通过,50Hz干扰信号被有效抑制,原因在于测量系统很容易区别不同频率,由下述简单计算可以说明选频测量的效果:

两个频率相差1倍的正弦波叠加到一起,高频的是干扰,幅度为低频的10倍:

Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

在x=0/90/180/270°得到4个测量值

Y0=12.4517,Y1= -11.1017,Y2=12.2075,Y3= -13.5576,

计算A=Y1-Y3=2.4559,B=Y0-Y2=0.2442,则:

φ=tg-1(B/A)=5.678° V=  A2+B2/2=1.234

这刚好是低频部分的相位和幅度,干扰被抑制。实际波形的测量点多达数万,计算量很大,结果反映了波形的整体特征。

 

2、频率和介损的关系

介损有RC串联和并联两种理想模型:串联模型tgδ=2πfRC,并联模型tgδ=1/(2πfRC),tgδ分别随频率f成正比和反比。如图所示,f对*正比和*反比两种模型影响较大。但实际电容器是多种模型交织的混合模型,此时f的影响就小。

 


 

 

 

低频介损曲线(<1kHz)    高频介损曲线或低频电路谐振

 

 

3、自动变频与50Hz等效

仪器采用自动变频在干扰频率50Hz两侧(45Hz和55Hz)各测一个点,然后推算50Hz频率下数据。除多个元件电路的低频谐振外,单个试品中的介质不可能在低频引起能量吸收峰,工频附近介损总是随频率单调变化的。因此这种测量方法不会带来明显误差。实际上,平均前的两个介损值已十分接近,即使不平均也*有参考价值。目前,变频介损仪已成为介损测量的常规仪器,其优异的抗干扰能力和准确度已经得到认

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